近(1)日，紐約州立大學水牛城分校(University at Buffalo)團隊發現，自閉症類群障礙症和智能障礙(ASD/ID)的兩個高風險基因——ADNP和POGZ，展現了一種涉及免疫活化的趨同(convergent)機制，這可能是導致此神經發育障礙的原因。研究發表於《Brain》。
 
自閉症類群障礙症和智能障礙並不相同，但有高達31%的自閉症患者也表現出智能障礙，而這兩種疾病的分子病因都尚不清楚。
 
研究發現ADNP和POGZ這兩個基因的突變，會導致免疫反應基因過度表現，以及大腦中具有免疫功能的微膠細胞異常活躍，這被認為可能導致大腦神經突觸功能異常，也就是ASD/ID的一個特徵。
 
論文第一作者Megan Conrow-Graham表示，中樞神經系統中的細胞，不應該表現這麼多活化免疫系統的基因。正常情況下，ADNP和POGZ都可以壓制這些基因，避免持續的發炎反應損害周圍細胞。然而，當這種壓制減弱時，這些免疫和發炎基因就能夠大量表現。
 
在小鼠實驗中，研究人員以miRNA來抑制ADNP和POGZ基因，結果發現，小鼠的空間記憶、物體辨識記憶和長期記憶等認知任務表現較差。而ADNP或POGZ基因缺陷的小鼠，其前額葉皮質表現量提高的基因，也會促進發炎反應。
 
Conrow-Graham表示，在人類ASD/ID患者的大體組織中，我們也發現其前額葉皮質中ADNP和POGZ的表現量減少，而表現量提高的基因與該基因缺陷小鼠一致。前額葉皮質是大腦中負責執行認知功能的部分，與神經發育障礙高度相關。
 
研究人員表示，希望未來的研究進一步確認慢性神經發炎，是否直接導致一些ASD/ID病例，以及驗證靶向微膠細胞和發炎反應途徑療法的治療潛力。
 
不過，論文通訊作者、紐約州立大學生理學和生物物理學系教授Zhen Yan表示，有鑑於這些腦部疾病的異質性和複雜性，仍有待完成更多研究。
 
參考資料：https://www.news-medical.net/news/20220701/A-convergent-mechanism-for-two-top-ranking-risk-genes-may-be-responsible-for-ASDID.aspx
論文：https://doi.org/10.1093/brain/awac152
 
(編譯/劉馨香)